MC3M-Serie
Nahezu verzeichnungsfreie Makroobjektive für Sensoren bis zu 1.1"
Hauptvorteile
- Nahezu keine Verzeichnung*
Dank der sehr geringen optischen Verzeichnung eignen sich MC3M-Objektive hervorragend für hochpräzise Positionierungs-, Inspektions- und Messanwendungen, bei denen keine große Tiefenschärfe erforderlich ist. - Großer Bildkreis für Sensoren bis zu 1.1"
- Hohe Auflösung
Die MC3M-Serie wurde speziell für eine Makrokonfiguration mit einem festen Arbeitsabstand entwickelt. - Einfaches und robustes Design für industrielle Anwendungen
- Kompaktheit
30 mm Außendurchmesser für Anwendungen, bei denen nur wenig Raum für optische Komponenten verfügbar ist.
* Die Bildverzeichnung ist die prozentuale Abweichung des von der Optik erfassten realen Bildes im Vergleich zu einem idealen, unverzerrten Bild. Unsere Makroobjektive haben eine "Nahezu-Null-Verzeichnung", was bedeutet, dass die maximale Verzeichnung so nahe wie möglich bei Null liegt, obwohl ein perfekt verzeichnungsfreies Bild in der realen Welt nicht vorkommen kann.
Die MC3M-Serie ist eine Familie von Makro-Objektiven, die für die Aufnahme von Bildern kleiner Objekte entwickelt wurden, bei denen hohe Auflösung und nahezu keine Verzeichnung erforderlich sind.
Die für 1.1"-Sensoren optimierten MC3M-Makroobjektive wurden speziell für Makroaufnahmen entwickelt, um das Beste aus Inspektionen im Nahbereich herauszuholen, ohne Kompromisse bei Bildverzerrung, Auflösung, Tiefenschärfe, Farbtreue und Messgenauigkeit einzugehen.
Mit Vergrößerungen von 0.1x bis 6x sind diese Makroobjektive ideal für Anwendungen wie Positionierung/Inspektion/Messung von Objekten, bei denen keine große Schärfentiefe erforderlich ist (gebogene Metallteile, Siliziumwafer, Quad Flat No-Lead (QFN) Gehäuse, usw.).
Dank ihrer Kompaktheit und ihres guten Preis-Leistungs-Verhältnisses eignen sie sich für industrielle Umgebungen mit begrenztem Raum.
Anwendungsbeispiele
- Hochpräzise Inspektion von Steckverbindungen
- Inspektion von Metallkomponenten zur Identifizierung von Oberflächenfehlern
- Passermarkeninspektion auf PCBs zur Überprüfung der Positionierung
Hinweise
- Arbeitsabstand: Abstand zwischen dem vorderen Ende der Mechanik und dem Objekt. Dieser Abstand muss innerhalb von ± 3 % des nominalen Werts liegen, um maximale Auflösung und minimale Verzeichnung zu gewährleisten.
- Effektive Blendenzahl (wf/N): Die reale Blendenzahl eines als Makro verwendeten Objektivs. Objektive mit kleinerer Apertur können auf Anfrage geliefert werden.
- Abweichung von einem realen zu einem idealen, verzeichnungsfreien Bild in Prozent.
- An den Rändern der Schärfentiefe kann das Bild noch für Messungen verwendet werden. Für ein sehr scharfes Bild darf allerdings nur die Hälfte der Schärfentiefe genommen werden. Bei der Berechnung wurde Pixelgröße 3,45 μm verwendet.
- Objektseitig, berechnet mit dem Rayleigh-Kriterium bei λ= 520 nm
- Gemessen vom vorderen Ende der Mechanik zum Kameraflansch.