TCLWD3M-Serie
Telezentrische Objektive mit festem Arbeitsabstand für Sensoren bis 1.1”
Hauptvorteile
- Großer Bildkreis für Sensoren bis zu 1/1“
- Fester Arbeitsabstand
Perfekt für die Inspektion elektronischer Komponenten (AOI) und für Werkzeugvoreinstellgeräte. - Hohe numerische Apertur
Für Sensoren mit hoher Auflösung und kleinen Pixelgrößen. - Hervorragendes Preis-Leistungs-Verhältnis
Die hochauflösend telezentrischen Objektive der TCLWD3M-Serie wurden spezifisch für die elektronische und Halbleiter-AOI (Automatische Optische Inspektion) sowie für Geräte zur Werkzeugvoreinstellung konzipiert. Der große Arbeitsabstand schafft zusätzlichen Platz, der unerlässlich sein kann, wenn beispielsweise Beleuchtungen oder Aufnahmewerkzeuge eingebaut werden müssen oder ein Sicherheitsabstand zu gefährlichen Produktionsprozessen eingehalten werden muss.
TCLWD3M-Objektive wurden für den neuen 1,1-Zoll-Sony-Sensor optimiert, um eine hohe Auflösung und hervorragende Bildqualität zu gewährleisten. Über den großen Arbeitsabstand hinaus bieten die TCLWD-Objektive auch eine ausreichend große numerische Apertur für die Verwendung mit Kameras mit hoher Auflösung und kleinen Pixelgrößen. So eignen sich diese Objektive bestens für universelle 2D-Messsysteme.
Hinweise
- Objekt Sichtfeld (mm x mm). Bei den Feldern mit der Angabe "Ø =" wird ein kreisförmiges Objekt mit diesem Durchmesser vollständig im Sensor abgebildet.
- Arbeitsabstand: Abstand zwischen dem vorderen Ende der Mechanik und dem Objekt. Dieser Abstand muss innerhalb von ± 3 % des nominalen Werts liegen, um maximale Auflösung und minimale Verzeichnung zu gewährleisten.
- Effektive Blendenzahl (wf/N): Die reale Blendenzahl eines als Makro verwendeten Objektivs. Objektive mit kleinerer Apertur können auf Anfrage geliefert werden.
- Maximaler Winkel zwischen Hauptstrahlen und optischer Achse auf der Objektseite.Die Tabelle zeigt Höchstwerte (garantiert).
- Abweichung von einem realen zu einem idealen, verzeichnungsfreien Bild in Prozent.
- An den Rändern der Schärfentiefe kann das Bild noch für Messungen verwendet werden. Für ein sehr scharfes Bild darf allerdings nur die Hälfte der Schärfentiefe genommen werden. Bei der Berechnung wurde Pixelgröße 3,45 μm verwendet.
- Objektseitig, berechnet mit dem Rayleigh-Kriterium bei λ= 520 nm
- Gemessen vom vorderen Ende der Mechanik zum Kameraflansch.
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