TCSE-Serie
Hochauflösende telezentrische Objektive für 4/3", APS-C, APS-H und Vollformat-Sensoren
Hauptvorteile
- Großer Bildkreis für Sensoren bis zu 47,5 mm
- Exzellente Auflösung und geringe Verzeichnung
- Großer Arbeitsabstand perfekt für die Inspektion elektronischer Komponenten
- Robustes Design, ideal für industrielle Umgebungen
- Detaillierter Testbericht mit zertifizierten optischen Parametern
Die TCSE-Serie besteht aus hochauflösenden telezentrischen Objektiven, die für verschiedene große Sensorformate bis zum Vollformat entwickelt wurden. TCSE-Objektive bieten eine hervorragende optische Leistung, die eine unübertroffene Auflösung und geringe Verzeichnung gewährleistet.
Der große Arbeitsabstand schafft zusätzlichen Platz, der nützlich ist, wenn Beleuchtungen oder Aufnahmewerkzeuge installiert werden sollen oder um Sicherheitsabstand zu gefährlichen Produktionsprozessen einzuhalten.
Die meisten TCSE-Objektive verfügen über eine einstellbare Blende, die eine große Anwendungsflexibilität bietet. Darüber hinaus sind einige Modelle für den Einsatz im nahen Infrarot-Wellenlängenbereich (NIR) optimiert, wodurch sie sich ideal für die Halbleiterinspektion eignen.
Dank ihres robusten Designs können TCSE-Objektive einfach in jede industrielle Umgebung integriert werden.
Diese Objektive sind die perfekte Wahl für hochpräzise Anwendungen wie die Inspektion von Chips, PCBs und anderen elektronischen Komponenten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie oder die genaue Messung von Präzisionsteilen in der Automobil-, Luft- und Raumfahrt- oder Medizinindustrie.
Hinweise
- Arbeitsabstand: Abstand zwischen dem vorderen Ende der Mechanik und dem Objekt. Dieser Abstand muss innerhalb von ± 3 % des nominalen Werts liegen, um maximale Auflösung und minimale Verzeichnung zu gewährleisten.
- Effektive Blendenzahl (wf/N): Die reale Blendenzahl eines als Makro verwendeten Objektivs. Objektive mit kleinerer Apertur können auf Anfrage geliefert werden.
- Maximaler Winkel zwischen Hauptstrahlen und optischer Achse auf der Objektseite.Die Tabelle zeigt typische Werte (Produktionsdurchschnitte) und Höchstwerte (garantiert).
- Abweichung von einem realen zu einem idealen, verzeichnungsfreien Bild in Prozent: Die Tabelle zeigt typische Werte (Produktionsdurchschnitte) und Höchstwerte (garantiert).
- An den Rändern der Schärfentiefe kann das Bild noch für Messungen verwendet werden. Für ein sehr scharfes Bild darf allerdings nur die Hälfte der Schärfentiefe genommen werden. Bei der Berechnung wurde Pixelgröße 3.45 μm verwendet.
- Objektseitig, berechnet mit dem Rayleigh-Kriterium bei λ= 520 nm
- FD steht für Flanschdistanz (in mm): Die Distanz vom Montageflansch zur Detektorebene.
- Gibt die Möglichkeit einer integrierten Phaseneinstellung der Kamera an.
- Gemessen vom vorderen Ende der Mechanik zum Kameraflansch.
Zusätzliche Hinweise
- Dieses Objektiv arbeitet im VIS- und IR-Wellenlängenbereich getrennt, wobei sich der Arbeitsabstand zwischen den beiden Konfigurationen ändert
- Dieses Objektiv funktioniert nur mit einem 50-mm-Würfel-Strahlenteiler vor dem Objektiv
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